点击图片查看原图
一米平面光栅摄谱仪801W
仪器用途
801W型平面光栅摄谱仪是在200nm-800nm波段范围内作发射光谱分析的仪器。广泛地应用于教学、地质、冶金、机械、石油化工等部门作光谱定量和定性分析
性能指标
工作波段：200nm-800nm
仪器焦距：f=1050mm
谱板尺寸：240*90mm
相对孔径：D/f=1:25
狭缝指标：变化范围 0.003-0.3mm ，手轮格值 0.001mm
外形尺寸（包括导轨）：1350*1230.420(mm)
主机重量：80kg
产品特点
·光学系统采用艾伯特垂直对称形式装置，慧差及象散可矫正到理想程度，在较长谱面范围内谱线清晰，结构均匀。
·仪器采用三透镜消色差照明方法，狭缝得到均匀照明，使同一条谱线黑度均匀。
·仪器缝前的哈特曼光栏及三阶，九阶减光板。
·使用控制箱控制谱过程。
·仪器配备直流电弧，交流电弧光源，以适应不同分析任务的需要。
·仪器配置工作台，安装和操作方便。